О масштабном микрофотографировании при физико-технических исследованиях

Как известно, наиболее доступным и простым способом получения масштабных микрофотографий является использование насадки к стереомикроскопу (МБС-1, МБС-П) с диоптрийным окуляром-микрометром 8× (В.Я. Эпштейн 1962,1971,1972, 1974). Однако, несмотря на достоинства этого метода, при производстве трасологических экспертиз выявлены его недостатки. Так, масштабная линейка, располагаясь в центре поля зрения, своими делениями накладывается на следы скольжения на объекте из-за чего в некоторых случаях невозможно объективно оценить результаты фотоналожения (рис. 1). Для устранения этого недостатка мы разработали методику, основанную на изготовлении масштабной линейки-эталона для любой кратности объектива микроскопа. С масштабной линейки диоптрийного окуляра-микрометра изготовляется негатив—эталон-масштаб, цена делений которого для определенной кратности объектива приводится в паспорте микроскопа.

Рис. 1. Микрофотография следов скольжения, совмещенная с масштабной линейкой.

Рис. 2. Микрофотография следов скольжения с использованием масштабной линейки эталона.

Микрофотографирование объектов производится без масштабной линейки диоптрийного окуляра-микрометра с максимально вывинченной верхней его частью. При этом расстояние от верхней поверхности линзы окуляра до эмульсионного слоя фотопленки остается одним и тем же, что гарантирует постоянство масштаба изображения линейки и объектов. В последующем во время печати методом двухразового экспонирования масштабная линейка монтируется в непосредственной близости с изображением объекта (рис. 2).

Предложенная методика устраняет наложение масштаба на объект и повышает демонстративность фотоснимков.